Chroma ATE、SEMICON 台湾 2023 で AI 革命を推進する高度なテスト技術を披露

Sep 17, 2023

ニュース提供

2023 年 8 月 30 日、07:00 CST

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桃園、2023 年 8 月 30 日 /PRNewswire/ -- 自動テスト装置の大手プロバイダーである Chroma ATE Inc. は、SEMICON 台湾 2023 に参加します。同社は、人工知能 (AI) に焦点を当てた一連の革新的なテスト ソリューションを展示します。 )、ハイ パフォーマンス コンピューティング (HPC)、自動車、および AIoT アプリケーションで、進化し続ける半導体テストのニーズを満たすことを目指しています。

高度な SoC/アナログ テスト ソリューション

Chroma 3650-S2 SoC/アナログ テスト システムは、今日の高電圧、大電流、複雑なデジタル制御電源 IC のニーズを満たす高性能電源 IC テスト プラットフォームです。 最大 3000V または 320A の電源容量を備えた最大 768 個のデジタル I/O ピンとアナログ ピンが装備されており、200Mbps のデータレートと 300ps のエッジ配置精度 (EPA) を備えています。 リチウム電池管理システム (BMS) IC、電源管理 IC (PMIC)、GaN および SiC 関連の電源 IC をテストするのに理想的な選択肢です。

Chroma 3680 アドバンスト SoC テスト システムは、AI および自動車技術で使用される最先端チップのテスト ニーズを効果的に満たします。 このシステムは、最大 1Gbps のデータ速度で最大 2048 個の I/O ピンを提供し、最大 16G SCAN ベクトル メモリをサポートし、ユーザーが選択できるさまざまなテスト モジュールを提供します。 デジタル ロジック、パラメトリック テスト ユニット、電源、メモリ、ミックスド シグナル、RF ワイヤレス通信テストを同時に実行する機能があります。

RFチップテストソリューション

RFIC テスター モデル 35806 と統合された Chroma 3680/3380/3300 自動テスト システムは、お客様によって量産向けにすでに検証されている包括的な無線周波数 (RF) チップ テスト ソリューションを提供します。 この強化されたソリューションは、Bluetooth、Wi-Fi、NB-IoT、GPS/BeiDou、チューナーおよび PA IoT 通信規格を含む幅広いアプリケーションをサポートします。 特に、300K から 6 GHz までの範囲をカバーする超高周波帯域幅の VSG/VSA モジュールを備えており、広範囲の新しい無線通信規格に適しています。

SLT トライテンプ テスト ソリューション

Chroma 31000R-L は、最も要求の厳しい熱試験要件を満たすように設計された Tri-Temp テスト システムです。 -40°C ～ +150°C の範囲の安定した温度制御機能と最大 1,800W の DUT (Device Under Test) 冷却能力を備えたこのシステムは、ハイエンド IC Tri-Temp テスト ソリューションとして理想的な選択肢です。

Chroma 31000R-L は、3210、3110、3260、3200 などの Chroma モデルとシームレスに組み合わせることができ、ラボ環境と工場環境の両方に適した包括的な SLT (システム レベル テスト) Tri-Temp テスト ソリューションを提供します。 Chroma の Tri-Temp テスト ソリューションは、自動車、AI およびデータセンター、GPU、APU、HPC、航空宇宙、防衛など、さまざまな先進的およびハイエンド IC アプリケーションに対応します。 IC が過酷な環境でも完璧に動作するように設計されており、製品の信頼性テストに最適です。

パワー半導体デバイスの絶縁品質ガーディアン

パワー半導体デバイス（IGBT、SiC-MOSFETなど）は、電力変換・制御回路などの大電力・大電流が必要となるさまざまな分野で使用されており、アイソレータ（フォトカプラ、デジタルアイソレータなど）は、電圧がかかる環境で使用されています。 2 つの側 (つまり、1 次側と 2 次側) 間の差を分離する必要があります。 これらのコンポーネント間にはより高い電圧差または電位差が現れるため、これらのコンポーネントが通常の動作条件下で良好な電圧絶縁を維持でき、絶縁劣化につながる可能性のある連続部分放電 (PD) が発生しないことを確認することが非常に重要です。 Chroma 19501 シリーズ部分放電試験器は、IEC 60270-1 の PD 測定要件に準拠しており、規制で指定されている試験方法が機器に組み込まれています。 AC耐電圧試験（最大10kVac）と部分放電測定（最大6000pC）が可能で、パワー半導体デバイスやアイソレータの長期動作の品質と信頼性を効果的に確保できます。